|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 20 van 74 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of moving bits (MBs) and QBD in wet/dry tunnel oxides for floating gate type nonvolatile memory (FG-NVM) applications |
| Auteur: |
Ackaert, Jan Lowe, Antony Boonen, Sylvie Yao, Thierry Rayhem, Joseph Desoete, Bart Prasad, Jagdish Thomason, Mike Van Houdt, Jan Degraeve, Robin Haspeslagh, Luc Hendrickx, Paul |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 48 (2004) nr. 10-11 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2004 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 20 van 74 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |