|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
Electrothermal model for simulation of bulk-Si and SOI diodes in ESD protection circuits |
| Auteur: |
Wang, Yu Juliano, Patrick Joshi, Sopan Rosenbaum, Elyse |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 41 (2001) nr. 11 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |