|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
Electrical degradation and recovery of dielectrics in n++-poly-Si/SiO x /SiO2/p-sub structures designed for application in low-voltage non-volatile memories |
| Auteur: |
Irrera, Fernanda |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 41 (2001) nr. 11 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |