Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
Zoeken naar met titel:
ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXYZ

     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
                                       Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
 
                             10 gevonden resultaten
nr titel auteur tijdschrift jaar jaarg. afl. pagina('s) type
1 A Tunable Concurrent BIST Design Based on Reconfigurable LFSR Menbari, Ahmad
39 2 p. 245-262
 artikel
2 Cost-Effective Path Delay Defect Testing Using Voltage/Temperature Analysis Based on Pattern Permutation Song, Tai
39 2 p. 189-205
 artikel
3 Design of INV/BUFF Logic Locking For Enhancing the Hardware Security Naveenkumar, R.
39 2 p. 141-153
 artikel
4 Editorial Agrawal, Vishwani D.
39 2 p. 123
 artikel
5 Hardware Trojan Detection Method Based on Dual Discriminator Assisted Conditional Generation Adversarial Network Tang, Wenjing
39 2 p. 129-140
 artikel
6 Increased Detection of Hard-to-Detect Stuck-at Faults during Scan Shift Jiang, Hui
39 2 p. 227-243
 artikel
7 Light Emission Tracking and Measurements for Analog Circuits Fault Diagnosis in Automotive Applications Melis, Tommaso
39 2 p. 171-187
 artikel
8 Multiple Retest Systems for Screening High-Quality Chips Yeh, Chung-Huang
39 2 p. 207-225
 artikel
9 On the Use of the Indirect Test Strategy for Lifetime Performance Monitoring of RF Circuits El Badawi, H.
39 2 p. 155-170
 artikel
10 Test Technology Newsletter
39 2 p. 125-127
 artikel
                             10 gevonden resultaten
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland