Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
                                       Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
 
                             15 gevonden resultaten
nr titel auteur tijdschrift jaar jaarg. afl. pagina('s) type
1 A Fast Statistical Soft Error Rate Estimation Method for Nano-scale Combinational Circuits Raji, Mohsen
2016
32 3 p. 291-305
artikel
2 A New Capacitance-to-Frequency Converter for On-Chip Capacitance Measurement and Calibration in CMOS Technology Zhu, Dongdi
2016
32 3 p. 393-397
artikel
3 An SEU-Resilient SRAM Bitcell in 65-nm CMOS Technology Chen, Qingyu
2016
32 3 p. 385-391
artikel
4 Automatic Feature Selection of Hardware Layout: A Step toward Robust Hardware Trojan Detection Nasr, Abdurrahman A.
2016
32 3 p. 357-367
artikel
5 Dynamic Power Integrity Control of ATE for Eliminating Overkills and Underkills in Device Testing Ishida, Masahiro
2016
32 3 p. 257-271
artikel
6 Editorial Agrawal, Vishwani D.
2016
32 3 p. 241-242
artikel
7 High Performance Significance Approximation Error Tolerance Adder for Image Processing Applications Jothin, R.
2016
32 3 p. 377-383
artikel
8 Identification and Rejuvenation of NBTI-Critical Logic Paths in Nanoscale Circuits Jenihhin, Maksim
2016
32 3 p. 273-289
artikel
9 Impact of Fin-Height on SRAM Soft Error Sensitivity and Cell Stability Villacorta, Hector
2016
32 3 p. 307-314
artikel
10 NBTI-Aware Design of Integrated Circuits: A Hardware-Based Approach for Increasing Circuits’ Life Time Copetti, T.
2016
32 3 p. 315-328
artikel
11 Optimization of Boundary Scan Tests Using FPGA-Based Efficient Scan Architectures Aleksejev, Igor
2016
32 3 p. 245-255
artikel
12 Real-Time Adaptive Test Algorithm Including Test Escape Estimation Method Streitwieser, Christian
2016
32 3 p. 369-375
artikel
13 Security Path: An Emerging Design Methodology to Protect the FPGA IPs Against Passive/Active Design Tampering Zamanzadeh, Sharareh
2016
32 3 p. 329-343
artikel
14 Side-Channel Information Characterisation Based on Cascade-Forward Back-Propagation Neural Network Saeedi, Ehsan
2016
32 3 p. 345-356
artikel
15 Test Technology Newsletter 2016
32 3 p. 243-244
artikel
                             15 gevonden resultaten
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland