|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
A New Capacitance-to-Frequency Converter for On-Chip Capacitance Measurement and Calibration in CMOS Technology |
| Auteur: |
Zhu, Dongdi Mo, Jiongjiong Xu, Shiyi Shang, Yongheng Wang, Zhiyu Huang, Zhengliang Yu, Faxin |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 32 (2016) nr. 3 pagina's 393-397 |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |