Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
Zoeken naar met titel:
ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXYZ

     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
                                       Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
 
                             10 gevonden resultaten
nr titel auteur tijdschrift jaar jaarg. afl. pagina('s) type
1 A Determinate Radiation Hardened Technique for Safety-Critical CMOS Designs Huang, Ryan H.-M.
 2015
 31 2 p. 181-192
 artikel
2 Analog Circuits Soft Fault Diagnosis Using Rényi’s Entropy Xie, Xuan
 2015
 31 2 p. 217-224
 artikel
3 Application-Based Analysis of Register File Criticality for Reliability Assessment in Embedded Microprocessors Restrepo-Calle, Felipe
 2015
 31 2 p. 139-150
 artikel
4 A Shift-Register Based BIST Architecture for FPGA Global Interconnect Testing and Diagnosis Pereira, Igor Gadelha
 2015
 31 2 p. 207-215
 artikel
5 Digital Calibration for 8-bit Delay Line ADC Using Harmonic Distortion Correction Lee, Hsun-Cheng
 2015
 31 2 p. 127-138
 artikel
6 Editorial Agrawal, Vishwani D.
 2015
 31 2 p. 123
 artikel
7 Formal Quantification of the Register Vulnerabilities to Soft Error in RTL Control Paths Chen, Liang
 2015
 31 2 p. 193-206
 artikel
8 Reusing RTL Assertion Checkers for Verification of SystemC TLM Models Bombieri, Nicola
 2015
 31 2 p. 167-180
 artikel
9 Scalable and Optimized Hybrid Verification of Embedded Software Behrend, Jörg
 2015
 31 2 p. 151-166
 artikel
10 Test Technology Newsletter 2015
 31 2 p. 125-126
 artikel
                             10 gevonden resultaten
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland