|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
Application-Based Analysis of Register File Criticality for Reliability Assessment in Embedded Microprocessors |
| Auteur: |
Restrepo-Calle, Felipe Cuenca-Asensi, Sergio Martínez-Álvarez, Antonio Chielle, Eduardo Kastensmidt, Fernanda Lima |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 31 (2015) nr. 2 pagina's 139-150 |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 10 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |