Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
Zoeken naar met titel:
ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXYZ

     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
                                       Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
 
                             10 gevonden resultaten
nr titel auteur tijdschrift jaar jaarg. afl. pagina('s) type
1 A Functional Approach for Testing the Reorder Buffer Memory Di Carlo, S.
 2014
 30 4 p. 469-481
 artikel
2 An Accurate Combination of on-the-fly Interface Trap and Threshold Voltage Methods for NBTI Degradation Extraction Tahanout, Cherifa
 2014
 30 4 p. 415-423
 artikel
3 Analog Fault Diagnosis Using Conic Optimization and Ellipsoidal Classifiers El-Gamal, Mohamed A.
 2014
 30 4 p. 443-455
 artikel
4 A New Hybrid Fault-Tolerant Architecture for Digital CMOS Circuits and Systems Tran, D. A.
 2014
 30 4 p. 401-413
 artikel
5 Editorial Agrawal, Vishwani D.
 2014
 30 4 p. 383-384
 artikel
6 Enhanced Low Complex Double Error Correction Coding with Crosstalk Avoidance for Reliable On-Chip Interconnection Link Maheswari, M.
 2014
 30 4 p. 387-400
 artikel
7 Fault Detection of Linear Analog Integrated Circuit in Network Li, Deliang
 2014
 30 4 p. 483-489
 artikel
8 Recovery Time and Fault Tolerance Improvement for Circuits mapped on SRAM-based FPGAs Ullah, Anees
 2014
 30 4 p. 425-442
 artikel
9 Test Technology Newsletter 2014
 30 4 p. 385-386
 artikel
10 The Use of Software Engineering Methods for Efficacious Test Program Creation: A Supportive Evidence Based Case Study Vock, Stefan
 2014
 30 4 p. 457-467
 artikel
                             10 gevonden resultaten
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland