|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
An Accurate Combination of on-the-fly Interface Trap and Threshold Voltage Methods for NBTI Degradation Extraction |
| Auteur: |
Tahanout, Cherifa Tahi, Hakim Djezzar, Boualem Benabdelmomene, Abdelmadjid Goudjil, Mohamed Nadji, Becharia |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 30 (2014) nr. 4 pagina's 415-423 |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 10 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |