Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
Zoeken naar met titel:
ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXYZ

     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
                                       Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
 
                             10 gevonden resultaten
nr titel auteur tijdschrift jaar jaarg. afl. pagina('s) type
1 A Layout-Aware Pattern Grading Procedure for Critical Paths Considering Power Supply Noise and Crosstalk Ma, Junxia
 2011
 28 2 p. 201-214
 artikel
2 A Modified Simulation-Based Multi-Signal Modeling for Electronic System Xiaomei, Chen
 2012
 28 2 p. 155-165
 artikel
3 Analysis and Fault Modeling of Actual Resistive Defects in ATMEL eFlash Memories Mauroux, P.-D.
 2012
 28 2 p. 215-228
 artikel
4 Diagnostic Test Set Minimization and Full-Response Fault Dictionary Shukoor, Mohammed Ashfaq
 2012
 28 2 p. 177-187
 artikel
5 Fault Detection of Analog Circuits Using Network Parameters Kavithamani, A.
 2012
 28 2 p. 257-261
 artikel
6 Self-Calibration of Output Match and Reverse Isolation in LNAs Based Switchable Resistor Ayadi, R.
 2012
 28 2 p. 167-176
 artikel
7 Software-Based Testing for System Peripherals Grosso, M.
 2012
 28 2 p. 189-200
 artikel
8 Tester Memory Requirements and Test Application Time Reduction for Delay Faults with Digital Captureless Test Sensors Thibeault, C.
 2011
 28 2 p. 229-242
 artikel
9 Testing of Low-cost Digital Microfluidic Biochips with Non-Regular Array Layouts Zhao, Yang
 2011
 28 2 p. 243-255
 artikel
10 Test Technology Newsletter 2012
 28 2 p. 153-154
 artikel
                             10 gevonden resultaten
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland