|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis and Fault Modeling of Actual Resistive Defects in ATMEL eFlash Memories |
| Auteur: |
Mauroux, P.-D. Virazel, A. Bosio, A. Dilillo, L. Girard, P. Pravossoudovitch, S. Godard, B. Festes, G. Vachez, L. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 28 (2012) nr. 2 pagina's 215-228 |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 10 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |