|
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
9 gevonden resultaten
| nr | titel | auteur | tijdschrift | jaar | jaarg. | afl. | pagina('s) | type |
| 1 | A Novel Test Point Selection Method for Analog Fault Dictionary Techniques |
Yang, ChengLin |
2010 |
26 | 5 |
p. 523-534 |
artikel |
|
| 2 | Classification of Activated Faults in the FlexRay-Based Networks |
Sedaghat, Yasser |
2010 |
26 | 5 |
p. 535-547 |
artikel |
|
| 3 | Design of Memories with Concurrent Error Detection and Correction by Nonlinear SEC-DED Codes |
Wang, Zhen |
2010 |
26 | 5 |
p. 559-580 |
artikel |
|
| 4 | Editorial |
Agrawal, Vishwani D. |
2010 |
26 | 5 |
p. 495 |
artikel |
|
| 5 | Efficient Concurrent Self-Test with Partially Specified Patterns |
Kochte, Michael A. |
2010 |
26 | 5 |
p. 581-594 |
artikel |
|
| 6 | Fault Models for Quantum Mechanical Switching Networks |
Biamonte, Jacob D. |
2010 |
26 | 5 |
p. 499-511 |
artikel |
|
| 7 | JTAG Security System Based on Credentials |
Park, Keunyoung |
2010 |
26 | 5 |
p. 549-557 |
artikel |
|
| 8 | Test Set Compression Through Alternation Between Deterministic and Pseudorandom Test Patterns |
Al-Yamani, Ahmad A. |
2010 |
26 | 5 |
p. 513-521 |
artikel |
|
| 9 | Test Technology Newsletter |
2010 |
26 | 5 |
p. 497-498 |
artikel |
9 gevonden resultaten