|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 9 gevonden artikelen
| Titel: |
A Novel Test Point Selection Method for Analog Fault Dictionary Techniques |
| Auteur: |
Yang, ChengLin Tian, ShuLin Long, Bing Chen, Fang |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 26 (2010) nr. 5 pagina's 523-534 |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 9 gevonden artikelen
| volgende >> |