Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
Zoeken naar met titel:
ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXYZ

     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
                                       Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
 
                             9 gevonden resultaten
nr titel auteur tijdschrift jaar jaarg. afl. pagina('s) type
1 Editorial Agrawal, Vishwani D.
 2010
 26 3 p. 293
 artikel
2 False Error Vulnerability Study of On-line Soft Error Detection Mechanisms Reddy, Kiran Kumar
 2010
 26 3 p. 323-335
 artikel
3 Fault Coverage on RF VCOs and BIST for Wafer Sort Using Peak-to-Peak Voltage Detectors Testa, Luca
 2010
 26 3 p. 355-365
 artikel
4 Fault Modeling and Analysis for Resistive Bridging Defects in a Synchronizer Kim, Hyoung-Kook
 2010
 26 3 p. 367-392
 artikel
5 MONSOON: SAT-Based ATPG for Path Delay Faults Using Multiple-Valued Logics Eggersglüß, Stephan
 2010
 26 3 p. 307-322
 artikel
6 One-to-Many: Context-Oriented Code for Concurrent Error Detection Keren, Osnat
 2009
 26 3 p. 337-353
 artikel
7 Test Data Compression Using Multi-dimensional Pattern Run-length Codes Tseng, Wang-Dauh
 2010
 26 3 p. 393-400
 artikel
8 Test Technology Newsletter 2010
 26 3 p. 295-296
 artikel
9 Using Evolutionary Algorithms for Signal Integrity Assessment of High-Speed Data Buses Falconer, Maynard
 2010
 26 3 p. 297-305
 artikel
                             9 gevonden resultaten
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland