Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
Zoeken naar met titel:
ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXYZ

     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
                                       Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
 
                             11 gevonden resultaten
nr titel auteur tijdschrift jaar jaarg. afl. pagina('s) type
1 A Comparative Evaluation of Designs for Reliable Memory Systems Cardarilli, G. C.
 2005
 21 4 p. 429-444
 artikel
2 Combined Fault Classification and Error Propagation Analysis to Refine RT-Level Dependability Evaluation Ammari, A.
 2005
 21 4 p. 365-376
 artikel
3 Editorial 2005
 21 4 p. 343
 artikel
4 Fault Modeling and Simulation of Power Supply Voltage Transients in Digital Systems on a Chip Júnior, D. Barros
 2005
 21 4 p. 349-363
 artikel
5 Guest Editorial 2005
 21 4 p. 347
 artikel
6 Low Cost On-Line Testing Strategy for RF Circuits NEGREIROS, MARCELO
 2005
 21 4 p. 417-427
 artikel
7 Memory Defect Tolerance Architectures for Nanotechnologies Nicolaidis, Michael
 2005
 21 4 p. 445-455
 artikel
8 Self-Checking Voter for High Speed TMR Systems Cazeaux, José Manuel
 2005
 21 4 p. 377-389
 artikel
9 Single- and Double-Output Embedded Checker Architectures for Systematic Unordered Codes∗ Tarnick, Steffen
 2005
 21 4 p. 391-404
 artikel
10 Test Technology Newsletter 2005
 21 4 p. 345
 artikel
11 The Integration of On-Line Monitoring and Reconfiguration Functions into a Safety Critical Automotive Electronic Control Unit Jeffrey, C.
 2005
 21 4 p. 405-416
 artikel
                             11 gevonden resultaten
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland