|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 11 gevonden artikelen
| Titel: |
Memory Defect Tolerance Architectures for Nanotechnologies |
| Auteur: |
Nicolaidis, Michael Anghel, Lorena Achouri, Nadir Metra, C. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 21 (2005) nr. 4 pagina's 445-455 |
| Jaar: |
2005 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 11 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |