|
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
9 gevonden resultaten
| nr | titel | auteur | tijdschrift | jaar | jaarg. | afl. | pagina('s) | type |
| 1 | Analysis of Dynamic Faults in Embedded-SRAMs: Implications for Memory Test |
Borri, Simone |
2005 |
21 | 2 |
p. 169-179 |
artikel |
|
| 2 | An Analog Circuit Fault Characterization Methodology |
Maidon, Yvan |
2005 |
21 | 2 |
p. 127-134 |
artikel |
|
| 3 | Applying the Oscillation Test Strategy to FPAA’s Configurable Analog Blocks |
Balen, Tiago R. |
2005 |
21 | 2 |
p. 135-146 |
artikel |
|
| 4 | Defect Oriented Testing of Analog Circuits Using Wavelet Analysis of Dynamic Supply Current |
Bhunia, Swarup |
2005 |
21 | 2 |
p. 147-159 |
artikel |
|
| 5 | Editorial |
Agrawal, Vishwani D. |
2005 |
21 | 2 |
p. 111 |
artikel |
|
| 6 | Error Diagnosis of Sequential Circuits Using Region-Based Model |
D’Souza, Anand L. |
2005 |
21 | 2 |
p. 115-126 |
artikel |
|
| 7 | Phase Shifter Merging |
Kagaris, Dimitri |
2005 |
21 | 2 |
p. 161-168 |
artikel |
|
| 8 | Selection of Crosstalk-Induced Faults in Enhanced Delay Test |
Li, Huawei |
2005 |
21 | 2 |
p. 181-195 |
artikel |
|
| 9 | Test Technology Technical Council Newsletter |
Kim, B. |
2005 |
21 | 2 |
p. 113-114 |
artikel |
9 gevonden resultaten