|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 9 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of Dynamic Faults in Embedded-SRAMs: Implications for Memory Test |
| Auteur: |
Borri, Simone Hage-Hassan, Magali Dilillo, Luigi Girard, Patrick Pravossoudovitch, Serge Virazel, Arnaud |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 21 (2005) nr. 2 pagina's 169-179 |
| Jaar: |
2005 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 9 gevonden artikelen
| volgende >> |