Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
Zoeken naar met titel:
ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXYZ

     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
                                       Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
 
                             11 gevonden resultaten
nr titel auteur tijdschrift jaar jaarg. afl. pagina('s) type
1 A Built-in-Self-Test Scheme for Segmented and Binary Weighted DACs Rafeeque K.P., Sunil
 2004
 20 6 p. 623-638
 artikel
2 2004 Annual Index 2004
 20 6 p. 671-681
 artikel
3 Area Minimization of Exclusive-OR Intensive Circuits in FPGAs Ko, Seok-Bum
 2004
 20 6 p. 661-665
 artikel
4 A Signature Analysis Technique for the Identification of Failing Vectors with Application to Scan-BIST* Goessel, Michael
 2004
 20 6 p. 611-622
 artikel
5 Editorial Agrawal, Vishwani D.
 2004
 20 6 p. 571
 artikel
6 List of Reviewers 2004
 20 6 p. 573-574
 artikel
7 Modeling Custom Digital Circuits for Test Bose, Soumitra
 2004
 20 6 p. 591-609
 artikel
8 On Using Exponential-Golomb Codes and Subexponential Codes for System-on-a-Chip Test Data Compression Li, Lei
 2004
 20 6 p. 667-670
 artikel
9 Power-Driven Routing-Constrained Scan Chain Design Bonhomme, Y.
 2004
 20 6 p. 647-660
 artikel
10 Scan Test Strategy for Asynchronous-Synchronous Interfaces Petre, Octavian
 2004
 20 6 p. 639-645
 artikel
11 Using RT Level Component Descriptions for Single Stuck-at Hierarchical Fault Simulation Navabi, Zainalabedin
 2004
 20 6 p. 575-589
 artikel
                             11 gevonden resultaten
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland