|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 11 gevonden artikelen
| Titel: |
A Signature Analysis Technique for the Identification of Failing Vectors with Application to Scan-BIST* |
| Auteur: |
Goessel, Michael Chakrabarty, Krishnendu Ocheretnij, Vitalij Leininger, Andreas |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 20 (2004) nr. 6 pagina's 611-622 |
| Jaar: |
2004 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 11 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |