Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
Zoeken naar met titel:
ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXYZ

     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
                                       Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
 
                             16 gevonden resultaten
nr titel auteur tijdschrift jaar jaarg. afl. pagina('s) type
1 An Integrated Approach to Testing Embedded Cores and Interconnects Using Test Access Mechanism (TAM) Switch Subhayu Basu
 2002
 18 4 p. 475-485
11 p.
 artikel
2 An Integrated Framework for the Design and Optimization of SOC Test Solutions Erik Larsson
 2002
 18 4 p. 385-400
16 p.
 artikel
3 A Novel Reconfigurable Wrapper for Testing of Embedded Core-Based SOCs and its Associated Scheduling Algorithm Sandeep Koranne
 2002
 18 4 p. 415-434
20 p.
 artikel
4 CAS-BUS A Test Access Mechanism and a Toolbox Environment for Core-Based System Chip Testing Mounir Benabdenbi
 2002
 18 4 p. 455-473
19 p.
 artikel
5 Design for Consecutive Testability of System-on-a-Chip with Built-In Self Testable Cores Tomokazu Yoneda
 2002
 18 4 p. 487-501
15 p.
 artikel
6 Deterministic Test Vector Compression/Decompression for Systems-on-a-Chip Using an Embedded Processor Abhijit Jas
 2002
 18 4 p. 503-514
12 p.
 artikel
7 Diagnostic Data Compression Techniques for Embedded Memories with Built-In Self-Test Jin-Fu Li
 2002
 18 4 p. 515-527
13 p.
 artikel
8 Editorial Vishwani D. Agrawal
 2002
 18 4 p. 359-359
1 p.
 artikel
9 Guest Editorial Krishnendu Chakrabarty
 2002
 18 4 p. 363-363
1 p.
 artikel
10 On-Chip Clock Faults' Detector C. Metra
 2002
 18 4 p. 555-564
10 p.
 artikel
11 On Concurrent Test of Core-Based SOC Design Yu Huang
 2002
 18 4 p. 401-414
14 p.
 artikel
12 On IEEE P1500's Standard for Embedded Core Test Erik Jan Marinissen
 2002
 18 4 p. 365-383
19 p.
 artikel
13 Signal Integrity Fault Modeling and Testing in High-Speed SoCs Mehrdad Nourani
 2002
 18 4 p. 539-554
16 p.
 artikel
14 Testing for Interconnect Crosstalk Defects Using On-Chip Embedded Processor Cores Li Chen
 2002
 18 4 p. 529-538
10 p.
 artikel
15 Test Technology Technical Council Newsletter A. Ivanov
 2002
 18 4 p. 361-362
2 p.
 artikel
16 The Role of Test Protocols in Automated Test Generation for Embedded-Core-Based System ICs Erik Jan Marinissen
 2002
 18 4 p. 435-454
20 p.
 artikel
                             16 gevonden resultaten
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland