Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
Zoeken naar met titel:
ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXYZ

     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
                                       Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
 
                             18 gevonden resultaten
nr titel auteur tijdschrift jaar jaarg. afl. pagina('s) type
1 Adaptive Fault Detection and Diagnosis of RAM Interconnects Jun Zhao
 1999
 15 1 p. 157-171
15 p.
 artikel
2 A Multi-Mode Scannable Memory Element for High Test Application Efficiency and Delay Testing E.S. Sogomonyan
 1999
 15 1 p. 87-96
10 p.
 artikel
3 Decreasing the Sensitivity of ADC Test Parameters by Means of Wobbling R. De Vries
 1999
 15 1 p. 23-29
7 p.
 artikel
4 Defect-Oriented Sampling of Non-Equally Probable Faults in VLSI Systems F.M. Gonçalves
 1999
 15 1 p. 41-52
12 p.
 artikel
5 Deterministic Built-in Pattern Generation for Sequential Circuits Vikram Iyengar
 1999
 15 1 p. 97-114
18 p.
 artikel
6 Editorial Vishwani D. Agrawal
 1999
 15 1 p. 5-5
1 p.
 artikel
7 Effect of Noise on Analog Circuit Testing Madhu K. Iyer
 1999
 15 1 p. 11-22
12 p.
 artikel
8 Efficient Path Selection for Delay Testing Based on Path Clustering Seiichiro Tani
 1999
 15 1 p. 75-85
11 p.
 artikel
9 Experience in Validation of PowerPCTM Microprocessor Embedded Arrays Li-C. Wang
 1999
 15 1 p. 191-205
15 p.
 artikel
10 Guest Editorial Michael Nicolaidis
 1999
 15 1 p. 9-9
1 p.
 artikel
11 IDDQ Testing of Opens in CMOS SRAMs Victor H. Champac
 1999
 15 1 p. 53-62
10 p.
 artikel
12 Mixed Signal DFT at GHz Frequencies R. Mason
 1999
 15 1 p. 31-39
9 p.
 artikel
13 New Techniques for Deterministic Test Pattern Generation Ilker Hamzaoglu
 1999
 15 1 p. 63-73
11 p.
 artikel
14 On Design Validation Using Verification Technology Dinos Moundanos
 1999
 15 1 p. 173-189
17 p.
 artikel
15 Self-Timed Boundary-Scan Cells for Multi-Chip Module Test T.A. García
 1999
 15 1 p. 115-127
13 p.
 artikel
16 Structural Fault Testing of Embedded Cores Using Pipelining M. Nourani
 1999
 15 1 p. 129-144
16 p.
 artikel
17 Synthesis of Circuits with Low-Cost Concurrent Error Detection Based on Bose-Lin Codes Debaleena Das
 1999
 15 1 p. 145-155
11 p.
 artikel
18 Test Technology Technical Council Newsletter 1999
 15 1 p. 7-8
2 p.
 artikel
                             18 gevonden resultaten
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland