|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Defect-Oriented Sampling of Non-Equally Probable Faults in VLSI Systems |
| Auteur: |
F.M. Gonçalves J.P. Teixeira |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 15 (1999) nr. 1 pagina's 12 p. |
| Jaar: |
1999-08/10-/10 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston, U.S.A |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |