Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
Zoeken naar met titel:
ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXYZ

     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
                                       Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
 
                             20 gevonden resultaten
nr titel auteur tijdschrift jaar jaarg. afl. pagina('s) type
1 A Low-Loss Built-In Current Sensor Yukiya Miura
 1999
 14 1 p. 39-48
10 p.
 artikel
2 A Scan-BIST Structure to Test Delay Faults in Sequential Circuits P. Girard
 1999
 14 1 p. 95-102
8 p.
 artikel
3 BISTing Datapaths under Heterogeneous Test Schemes D. Berthelot
 1999
 14 1 p. 115-123
9 p.
 artikel
4 Characterization of Floating Gate Defects in Analog Cells Anna M. Brosa
 1999
 14 1 p. 23-31
9 p.
 artikel
5 Detection of Defects Using Fault Model Oriented Test Sequences M. Renovell
 1999
 14 1 p. 13-22
10 p.
 artikel
6 Deterministic BIST with Multiple Scan Chains Gundolf Kiefer
 1999
 14 1 p. 85-93
9 p.
 artikel
7 Differential Thermal Testing An Approach to its Feasibility J. Altet
 1999
 14 1 p. 57-66
10 p.
 artikel
8 Editorial Vishwani D. Agrawal
 1999
 14 1 p. 7-7
1 p.
 artikel
9 Exploiting Behavioral Information in Gate-Level ATPG Silvia Chiusano
 1999
 14 1 p. 141-148
8 p.
 artikel
10 Fault-Tolerant Memory Architecture Against Radiation-Dependent Errors A Mixed Error Control Approach Octavian-Dumitru Mocanu
 1999
 14 1 p. 169-180
12 p.
 artikel
11 From Design Validation to Hardware Testing A Unified Approach Ghassan Al-Hayek
 1999
 14 1 p. 133-140
8 p.
 artikel
12 Guest Editorial Christian Landrault
 1999
 14 1 p. 11-11
1 p.
 artikel
13 ICCQ A Test Method for Analogue VLSI Using Local Current Sensors Joop P.M. Van Lammeren
 1999
 14 1 p. 33-38
6 p.
 artikel
14 Incremental Testability Analysis for Partial Scan Selection and Design Transformations Tianruo Yang
 1999
 14 1 p. 103-113
11 p.
 artikel
15 Integrated Design and Test of Mixed-Signal Circuits Nur Engin
 1999
 14 1 p. 75-83
9 p.
 artikel
16 Integration of the Scan-Test Method into an Architecture Specific Core-Test Approach Chris Feige
 1999
 14 1 p. 125-131
7 p.
 artikel
17 Metrics and Criteria for Quality Assessment of Testable Hw/Sw Systems Architectures Octávio P. Dias
 1999
 14 1 p. 149-158
10 p.
 artikel
18 Off-Chip Diagnosis of Aperture Jitter in Full-Flash Analog-to-Digital Converters Richard Rosing
 1999
 14 1 p. 67-74
8 p.
 artikel
19 Quality Determination for Gate Delay Fault Tests Considering Three-State Elements Frank Pöhl
 1999
 14 1 p. 49-55
7 p.
 artikel
20 SRAM-Based FPGAs Testing the Embedded RAM Modules M. Renovell
 1999
 14 1 p. 159-167
9 p.
 artikel
                             20 gevonden resultaten
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland