|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
Integration of the Scan-Test Method into an Architecture Specific Core-Test Approach |
| Auteur: |
Chris Feige Jan Ten Pierick Clemens Wouters Ronald Tangelder Hans G. Kerkhoff |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 14 (1999) nr. 1 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
1999-02/04-/04 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston, U.S.A |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |