IBL Tool - Digitale Bibliotheek

Digitale Bibliotheek

Tijdschrift beschrijving

Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift

Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang

Alle artikelen van de bijbehorende aflevering

12 gevonden resultaten

nr	titel	auteur	tijdschrift	jaar	jaarg.	afl.	pagina('s)	type
1	An Integrated CAD Methodology for Yield Enhancement of VLSI CMOS Circuits Including Statistical Device Variations	Massimo Conti		2003	37	2	p. 85-102 18 p.	artikel
2	An Integrated CAD Methodology for Yield Enhancement of VLSI CMOS Circuits Including Statistical Device Variations	Conti, Massimo		2003	37	2	p. 85-102	artikel
3	Area Allocation Strategies for Enhancing Yield of R-2R Ladders	Yu Lin		2003	37	2	p. 123-132 10 p.	artikel
4	Area Allocation Strategies for Enhancing Yield of R-2R Ladders	Lin, Yu		2003	37	2	p. 123-132	artikel
5	A Strategy for Rapid Mismatch Evaluation of Transient Characteristics of CMOS Analog Cells	Rafael López-Ahumada		2003	37	2	p. 103-111 9 p.	artikel
6	A Strategy for Rapid Mismatch Evaluation of Transient Characteristics of CMOS Analog Cells	López-Ahumada, Rafael		2003	37	2	p. 103-111	artikel
7	Guest Editorial Electronic Design for Quality	Tuna B. Tarim		2003	37	2	p. 71-71 1 p.	artikel
8	Guest Editorial: Electronic Design for Quality	Tarim, Tuna B.		2003	37	2	p. 71	artikel
9	Mismatch-Induced Trade-Offs and Scalability of Analog Preprocessing Visual Microprocessor Chips	A. Rodríguez-Vázquez		2003	37	2	p. 73-83 11 p.	artikel
10	Mismatch-Induced Trade-Offs and Scalability of Analog Preprocessing Visual Microprocessor Chips	Rodríguez-Vázquez, A.		2003	37	2	p. 73-83	artikel
11	Regression Criteria and Their Application in Different Modeling Cases	Georges Gielen		2003	37	2	p. 113-122 10 p.	artikel
12	Regression Criteria and Their Application in Different Modeling Cases	Gielen, Georges		2003	37	2	p. 113-122	artikel

12 gevonden resultaten

Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland