|
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
7 gevonden resultaten
| nr | titel | auteur | tijdschrift | jaar | jaarg. | afl. | pagina('s) | type |
| 1 | Copper-related defects in silicon |
Knack, S. |
2004 |
7 | 3 |
p. 125-141 17 p. |
artikel |
|
| 2 | Copper related diffusion phenomena in germanium and silicon |
Bracht, H. |
2004 |
7 | 3 |
p. 113-124 12 p. |
artikel |
|
| 3 | Editorial board |
2004 |
7 | 3 |
p. IFC- 1 p. |
artikel |
||
| 4 | Effect of low k dielectrics on electromigration reliability for Cu interconnects |
Ho, Paul S. |
2004 |
7 | 3 |
p. 157-163 7 p. |
artikel |
|
| 5 | First-principles theory of copper in silicon |
Estreicher, Stefan K. |
2004 |
7 | 3 |
p. 101-111 11 p. |
artikel |
|
| 6 | Interfacial reactions of ultrahigh-vacuum-deposited Cu thin films on Si, Ge and on epitaxial Si–Ge layers on Si and Ge |
Chen, L.J. |
2004 |
7 | 3 |
p. 143-156 14 p. |
artikel |
|
| 7 | Preface |
Mesli, Dr. A. |
2004 |
7 | 3 |
p. 99-100 2 p. |
artikel |
7 gevonden resultaten