|
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
7 gevonden resultaten
| nr | titel | auteur | tijdschrift | jaar | jaarg. | afl. | pagina('s) | type |
| 1 | Characterisation of HF-last cleaning of ion-implanted Si surfaces |
Kondoh, E. |
1998 |
1 | 2 |
p. 107-117 11 p. |
artikel |
|
| 2 | Metal contamination monitoring and gettering |
Polignano, M.L. |
1998 |
1 | 2 |
p. 119-130 12 p. |
artikel |
|
| 3 | Next generation lithography |
Harriott, L.R |
1998 |
1 | 2 |
p. 93-97 5 p. |
artikel |
|
| 4 | Numerical scale-up study of silicon deposition using 2D slit nozzle sources |
Ghen, C. |
1998 |
1 | 2 |
p. 141-152 12 p. |
artikel |
|
| 5 | Patent report |
1998 |
1 | 2 |
p. 159-165 7 p. |
artikel |
||
| 6 | The effect of TEM sample thickness on nucleation and growth and dissolution of {311} defects in Si+ implanted Si |
Li, Jing-Hong |
1998 |
1 | 2 |
p. 99-106 8 p. |
artikel |
|
| 7 | Volume distributions of InAs/GaAs self-assembled quantum dots by Stranski–Krastanow mode of molecular beam epitaxy |
Muto, S. |
1998 |
1 | 2 |
p. 131-140 10 p. |
artikel |
7 gevonden resultaten