|
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
6 gevonden resultaten
| nr | titel | auteur | tijdschrift | jaar | jaarg. | afl. | pagina('s) | type |
| 1 | A fault tolerant multistage interconnection network with partly duplicated switches |
Kamiura, Naotake |
2002 |
47 | 10 |
p. 901-916 16 p. |
artikel |
|
| 2 | A new approach for critical area estimation in VLSI |
Jiang, Xiaohong |
2002 |
47 | 10 |
p. 869-881 13 p. |
artikel |
|
| 3 | A prototype of a VHDL-based fault injection tool: description and application |
Baraza, J.C |
2002 |
47 | 10 |
p. 847-867 21 p. |
artikel |
|
| 4 | Behavioral test generation for the selection of BIST logic |
Biasoli, Giuseppe |
2002 |
47 | 10 |
p. 821-829 9 p. |
artikel |
|
| 5 | Quality-effective repair of multichip module systems |
Park, N. |
2002 |
47 | 10 |
p. 883-900 18 p. |
artikel |
|
| 6 | Studies of the SEMATECH IDDq test data |
Ko, Seok-Bum |
2002 |
47 | 10 |
p. 831-846 16 p. |
artikel |
6 gevonden resultaten