Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
                                       Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
 
                             10 gevonden resultaten
nr titel auteur tijdschrift jaar jaarg. afl. pagina('s) type
1 Editorial 1999
47 4 p. 199-
1 p.
artikel
2 Electrostatic discharges from charged spheres approaching a grounded surface Dascalescu, Lucian
1999
47 4 p. 249-259
11 p.
artikel
3 EOS analysis of soldering iron tip voltage Baumgartner, G.
1999
47 4 p. 261-275
15 p.
artikel
4 How to safely apply the LVTSCR for CMOS whole-chip ESD protection without being accidentally triggered on Ker, Ming-Dou
1999
47 4 p. 215-248
34 p.
artikel
5 Index 1999
47 4 p. 319-320
2 p.
artikel
6 Index 1999
47 4 p. 317-318
2 p.
artikel
7 Influence of the device package on the results of charged device model (CDM) tests — consequences for tester characterization and test procedure Brodbeck, Tilo
1999
47 4 p. 277-289
13 p.
artikel
8 Ion milling-induced ESD damage during MR head fabrication Olson, David H
1999
47 4 p. 291-304
14 p.
artikel
9 Measurement of the effects of ionizer imbalance and proximity to ground in MR head handling Levit, Larry
1999
47 4 p. 305-313
9 p.
artikel
10 New injection moldable electrostatic dissipative (ESD) composites based on very low carbon black loadings Narkis, Moshe
1999
47 4 p. 201-214
14 p.
artikel
                             10 gevonden resultaten
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland