Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
                                       Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
 
                             11 gevonden resultaten
nr titel auteur tijdschrift jaar jaarg. afl. pagina('s) type
1 3D measurement of micromechanical devices vibration mode shapes with a stroboscopic interferometric microscope Petitgrand, S.
2001
36 2 p. 77-101
25 p.
artikel
2 3D micro-inspection goes DMD Bitte, F.
2001
36 2 p. 155-167
13 p.
artikel
3 MicroDAC strain measurement for electronics packaging structures Vogel, D
2001
36 2 p. 195-211
17 p.
artikel
4 Optical characterization methods for solid-state image sensors Willemin, M.
2001
36 2 p. 185-194
10 p.
artikel
5 Optical microsystems metrology Osten, W.
2001
36 2 p. 75-76
2 p.
artikel
6 Quantitative strain analysis of flip-chip electronic packages using phase-shifting moiré interferometry Miller, Mikel R.
2001
36 2 p. 127-139
13 p.
artikel
7 Testing micro devices with fringe projection and white-light interferometry Windecker, Robert
2001
36 2 p. 141-154
14 p.
artikel
8 The determination of material parameters of microcomponents using digital holography Seebacher, S
2001
36 2 p. 103-126
24 p.
artikel
9 The investigation of microsystems using Raman spectroscopy De Wolf, Ingrid
2001
36 2 p. 213-223
11 p.
artikel
10 The optical measurement station for complex testing of microelements Sałbut, Leszek
2001
36 2 p. 225-240
16 p.
artikel
11 Verification of 2-D MEMS model using optical profiling techniques Hill, M.
2001
36 2 p. 169-183
15 p.
artikel
                             11 gevonden resultaten
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland