Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
                                       Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
 
                             9 gevonden resultaten
nr titel auteur tijdschrift jaar jaarg. afl. pagina('s) type
1 Applications of the scanning electron microscope EBIC mode to semiconductor device evaluation and failure analysis Sørensen, R.H.

11 1 p. 19-25
artikel
2 Book review Matthews, R.B.

11 1 p. 44
artikel
3 Book review Matthews, R.B.

11 1 p. 44
artikel
4 Book review Brown, K.

11 1 p. 44
artikel
5 Editorial Butcher, John B.

11 1 p. 3
artikel
6 Microcrack detection in silicon crystals with an ultrasonic sonoprobe Guidici, D.C.

11 1 p. 37-40
artikel
7 Some problems and possible solutions for hybrid microcircuit reliability Sinnadurai, F.N.

11 1 p. 26-36
artikel
8 The new microelectronic processing technology: a review of the state-of-the-art Maddox, R.L.

11 1 p. 4-18
artikel
9 World abstracts
11 1 p. 41-43
artikel
                             9 gevonden resultaten
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland