Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 4 van 9 gevonden artikelen
 
 
  In-situ X-ray Microscopy of Crack-Propagation to Study Fracture Mechanics of On-Chip Interconnect Structures
 
 
Titel: In-situ X-ray Microscopy of Crack-Propagation to Study Fracture Mechanics of On-Chip Interconnect Structures
Auteur: Kutukova, Kristina
Liao, Zhongquan
Werner, Stephan
Guttmann, Peter
Standke, Yvonne
Gluch, Jürgen
Schneider, Gerd
Zschech, Ehrenfried
Verschenen in: MRS advances
Paginering: Jaargang 3 () nr. 39 pagina's 2305-2310
Jaar: 2018-04-29
Inhoud:
Uitgever: Springer International Publishing, Cham
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 4 van 9 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland
Toegankelijkheidsverklaring