Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 13 van 38 gevonden artikelen
 
 
  Failure Analysis of FeCAPs. Electrical Behaviour Under Synchrotron X-Ray Irradiation
 
 
Titel: Failure Analysis of FeCAPs. Electrical Behaviour Under Synchrotron X-Ray Irradiation
Auteur: Menou, N.
Castagnos, A. -M.
Muller, Ch.
Johnson, J.
Wouters, D. J.
Baturin, I.
Shur, V. Ya.
Verschenen in: Integrated ferroelectrics
Paginering: Jaargang 61 (2004) nr. 1 pagina's 89-95
Jaar: 2004
Inhoud: This paper presents a preliminary study of the degradation and restoration of ferroelectric properties under X-ray irradiation of Pt/SBT/Pt ferroelectric capacitors (FeCAP) and the degradation in Pt/PZT/Pt FeCAPs. The results seem to point out that aging of irradiated capacitors originates from the pinning of domain walls due to trapping of photo-generated carriers at domain boundaries. For SBT FeCAPs, the recovery of a significant switchable polarisation after electrical cycling under X-ray irradiation indicates that the domain walls are probably weakly pinned. In PZT FeCAPs, the fatigue behaviour during X-ray exposure can be explained as a result of X-ray induced acceleration of the bulk screening process due to increasing of the concentration of bulk carriers, which leads to both static and kinetic imprint effects.
Uitgever: Taylor & Francis
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 13 van 38 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland
Toegankelijkheidsverklaring