|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 31 gevonden artikelen
| Titel: |
An optimized package test methodology for testing FRAM® memories |
| Auteur: |
Mitra, Sanjay Humes, James |
| Verschenen in: |
Integrated ferroelectrics |
| Paginering: | Jaargang 26 (1999) nr. 1-4 pagina's 297-310 |
| Jaar: |
1999-10-01 |
| Inhoud: |
As the market for ferroelectric semiconductor memories matures, the FRAM® products manufactured by Ramtron International Corp are moving into mass production. In this scenario, the optimization of the production test flow becomes a key consideration in the profitability of the product. Ramtron International Corp has thus been focussing on developing an optimized production test flow without compromising the final quality of the product. |
| Uitgever: |
Taylor & Francis |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 31 gevonden artikelen
| volgende >> |