|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 37 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of electrical switching in sub-micron KNO3 thin films |
| Auteur: |
Godfrey, R. Bruce Scott, J. F. Meadows, H. Brett Golabi, Manooch Araujo, C. McMillan, L. |
| Verschenen in: |
Ferroelectrics letters section |
| Paginering: | Jaargang 5 (1986) nr. 6 pagina's 167-172 |
| Jaar: |
1986-04-01 |
| Inhoud: |
The coercive field of KNO3 films 75 to 400nm thick is found to satisfy the empirical relation EC ∼d -1.3, where d is the thickness, in agreement with earlier work on BaTiO3 by Stadler and on TGS by Hadni et al. The switching times for large area devices (20Ox200μm) vary as E-1.5 in agreement with early work on BaTiO3 by Stadler and Zachmanidis, and indicate that the limiting parameter is the velocity of domain growth perpendicular t o the applied field. |
| Uitgever: |
Taylor & Francis |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 37 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |