|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 9 gevonden artikelen
| Titel: |
High Frequency Characterization of High Temperature Superconducting Thin-Film Lines |
| Auteur: |
van Deventer, T. E. Katehi, P. B. Josefowicz, J. Y. Rensch, D. B. |
| Verschenen in: |
Electromagnetics |
| Paginering: | Jaargang 11 (1991) nr. 2 pagina's 255-268 |
| Jaar: |
1991-04-01 |
| Inhoud: |
An integral equation approach is applied to calculate the propagation characteristics of high temperature thin-film superconducting lines at high frequencies. To evaluate losses in these lines, the superconducting strips are replaced by frequency-dependent surface impedance boundaries. The values of these surface impedances are measured experimentally by a TE01 cavity technique. Using this method, a parametric study is performed where phase and attenuation constants as well as characteristic impedance are evaluated as functions of frequency, temperature, permittivity and geometry of the structure. |
| Uitgever: |
Taylor & Francis |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 9 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |