Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 8 van 21 gevonden artikelen
 
 
  Critical values for dixon type test statistics for testing outliers in weibull or extreme value distributions
 
 
Titel: Critical values for dixon type test statistics for testing outliers in weibull or extreme value distributions
Auteur: Paul, S. R.
Fung, Karen Yuen
Verschenen in: Communications in statistics
Paginering: Jaargang 15 (1986) nr. 1 pagina's 277-283
Jaar: 1986
Inhoud:
Uitgever: Taylor & Francis
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 8 van 21 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland