|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 31 gevonden artikelen
| Titel: |
Measurement of Adhesion Force by a Symmetric AFM Probe for Nano-imprint Lithography Application |
| Auteur: |
Lee, Hee-Jung Hyun, Seungmin Kim, Jae-Hyun Lee, Hak-Joo Choi, Dae-Geun Lee, Dong-II Jeong, Jun-Ho Lee, Eung-Sug |
| Verschenen in: |
Journal of adhesion science and technology |
| Paginering: | Jaargang 22 (2008) nr. 13 pagina's 1379-1386 |
| Jaar: |
2008-09-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Brill, Leiden/Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 31 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |