Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige   
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 11 van 11 gevonden artikelen
 
 
  Transmission Electron Microscope Sample Preparation Using a Focused Ion Beam
 
 
Titel: Transmission Electron Microscope Sample Preparation Using a Focused Ion Beam
Auteur: Ishitani, Thoru
Tsuboi, Hideki
Yaguchi, Toshie
Koike, Hidemi
Verschenen in: Journal of electron microscopy
Paginering: Jaargang 43 (1994) nr. 5 pagina's 322-326
Jaar: 1994-10
Inhoud:
Uitgever: Oxford University Press, Oxford
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 11 van 11 gevonden artikelen
 
<< vorige   
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland