|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Grain Boundary Analysis of Silicon Nitrides by 400 kV Analytical Electron Microscopy |
| Auteur: |
BANDO, Yoshio MITOMO, Mamoru KITAMI, Yoshizo |
| Verschenen in: |
Journal of electron microscopy |
| Paginering: | Jaargang 35 (1986) nr. 4 pagina's 371-377 |
| Jaar: |
1986-NaN |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Oxford University Press, Oxford |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |