|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
High Resolution TEM Study on Electron Beam-Induced Damage in Sodium β′″-Alumina (Na2 4MgO 15Al2O3) and Isostructural Potassium β′″-Ferrite (K2O 4FeO 15Fe2O3 |
| Auteur: |
MATSUI, Yoshio BANDO, Yoshio KITAMI, Yoshizo HUTCHISON, John L. |
| Verschenen in: |
Journal of electron microscopy |
| Paginering: | Jaargang 35 (1986) nr. 4 pagina's 395-408 |
| Jaar: |
1986-NaN |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Oxford University Press, Oxford |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |