|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 9 gevonden artikelen
| Titel: |
Many-beam Effects on Thickness Fringes in a Silicon Wedge Crystal |
| Auteur: |
IZUI, Kazuhiko NISHIDA, Takahiko FURUNO, Shigemi |
| Verschenen in: |
Journal of electron microscopy |
| Paginering: | Jaargang 22 (1973) nr. 4 pagina's 329-336 |
| Jaar: |
1973-NaN |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Oxford University Press, Oxford |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 9 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |