|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 6 gevonden artikelen
| Titel: |
A High Resolution Electron Interference Microscope and Its Application to the Measurement of Mean Inner Potential |
| Auteur: |
YADA, Keiji SHIBATA, Kichiro HIBI, Tadatosi |
| Verschenen in: |
Journal of electron microscopy |
| Paginering: | Jaargang 22 (1973) nr. 3 pagina's 223-230 |
| Jaar: |
1973-NaN |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Oxford University Press, Oxford |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 6 gevonden artikelen
| volgende >> |