|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 36 gevonden artikelen
| Titel: |
Double-crystal spectrometer measurements of lattice parameters and X-ray topography on heterojunctions GaAs–AlxGa1−xAs |
| Auteur: |
Estop, E. Izrael, A. Sauvage, M. |
| Verschenen in: |
Acta crystallographica. Section A, Crystal physics, diffraction, theoretical and general crystallography |
| Paginering: | Jaargang 32 (1976) nr. 4 pagina's 627-630 |
| Jaar: |
1976-07-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 36 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |