|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterizing the intrinsic properties of individual XFEL pulses via single-particle diffraction |
| Auteur: |
Lee, Heemin Shin, Jaeyong Cho, Do Hyung Jung, Chulho Sung, Daeho Ahn, Kangwoo Nam, Daewoong Kim, Sangsoo Kim, Kyung Sook Park, Sang-Yeon Fan, Jiadong Jiang, Huaidong Kang, Hyun Chol Tono, Kensuke Yabashi, Makina Ishikawa, Tetsuya Noh, Do Young Song, Changyong |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 27 () nr. 1 pagina's 17-24 |
| Jaar: |
2020-01-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 30 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |