|
Characterization of the soft X-ray spectrometer PEAXIS at BESSY II |
|
|
|
Titel: |
Characterization of the soft X-ray spectrometer PEAXIS at BESSY II |
Auteur: |
Schulz, Christian Lieutenant, Klaus Xiao, Jie Hofmann, Tommy Wong, Deniz Habicht, Klaus |
Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
Paginering: |
Jaargang 27 () nr. 1 pagina's 238-249 |
Jaar: |
2020-01-01 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|