|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 45 van 53 gevonden artikelen
| Titel: |
Simultaneous scanning near-field optical and X-ray diffraction microscopy for correlative nanoscale structure–property characterization |
| Auteur: |
Li, Qian Marks, Samuel D. Bean, Sunil Fisher, Michael Walko, Donald A. DiChiara, Anthony D. Chen, Xinzhong Imura, Keiichiro Sato, Noriaki K. Liu, Mengkun Evans, Paul G. Wen, Haidan |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 26 (2019) nr. 5 pagina's 1790-1796 |
| Jaar: |
2019-09-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 45 van 53 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |