|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 47 van 51 gevonden artikelen
| Titel: |
The at-wavelength metrology facility for UV- and XUV-reflection and diffraction optics at BESSY-II |
| Auteur: |
Schäfers, F. Bischoff, P. Eggenstein, F. Erko, A. Gaupp, A. Künstner, S. Mast, M. Schmidt, J.-S. Senf, F. Siewert, F. Sokolov, A. Zeschke, Th. |
| Verschenen in: |
Journal of synchrotron radiation |
| Paginering: | Jaargang 23 (2016) nr. 1 pagina's 67-77 |
| Jaar: |
2016-01-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 47 van 51 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |